[发明专利]一种用于近场测试的太赫兹收发处理方法和探头在审
| 申请号： | 202111672305.3 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114397243A | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 刘健纯;谌贝;龚鹏伟;谢文;姜河;杨春涛;张倩 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/55 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 葛鹏 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于近场测试的太赫兹收发处理方法和探头，该探头包括：太赫兹产生单元，用于产生太赫兹信号；表面波耦合单元，用于获取来自所述太赫兹产生单元的太赫兹信号，并将所述太赫兹信号耦合至太赫兹传导尖端；所述太赫兹传导尖端，用于将耦合来自所述表面波耦合单元的太赫兹信号辐射至待测样品表面，并接收所述待测样品反射回的太赫兹波。通过本申请解决了太赫兹在近场成像所存在的问题，从而无需再对太赫兹辐射点与太赫兹探测尖端的相对位置进行精密调节，同时大幅缩小了太赫兹近场扫描系统体积，有效拓展了太赫兹成像技术的应用领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 近场 测试 赫兹 收发 处理 方法 探头 | ||
【主权项】：
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