[发明专利]载波频偏和采样频偏的确定方法及装置有效
| 申请号： | 202111605272.0 | 申请日： | 2021-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN114338325B | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 张璞;王培;吴昌强 | 申请（专利权）人： | 深圳市联平半导体有限公司 |
| 主分类号： | H04L27/26 | 分类号： | H04L27/26;H04L25/02 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 张岳峰 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了一种载波频偏和采样频偏的确定方法、装置、计算机可读存储介质及处理器，该方法包括获取初始载波频偏序列和初始载波频偏值；根据初始载波频偏序列确定采样频偏相对于载波频偏的斜率因子；根据斜率因子确定初始采样频偏值；至少采用斜率因子对初始载波频偏值进行补偿，得到补偿后的载波频偏值，由于是通过初始载波频偏序列确定的斜率因子，进而根据斜率因子确定初始采样频偏值，进而采用斜率因子对初始载波频偏值进行补偿，得到补偿后的载波频偏值，使得本方案不仅适用于晶振同源OFDM系统又适用于晶振不同源的OFDM系统。 | ||
| 搜索关键词： | 载波 采样 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
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