[发明专利]一种通用测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202111593507.9 | 申请日： | 2021-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN116339801A | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 孙贵鑫;张家勇;刘尊言;夏顺盈;董建勋 | 申请（专利权）人： | 航天科工惯性技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F8/71 | 分类号： | G06F8/71;G06F8/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种通用测试系统，包括通用测试单元、寄存器配置文件、专用配置文件和接口模块单元，接口模块单元与待测试产品和配套工具连接；通用测试单元一端与专用配置文件连接，另一端与接口模块单元连接；寄存器配置文件是待测试产品存储空间的映射；专用配置文件内包括不同产品测试项及测试流程，通用测试单元按照测试流程将测试项的指令调用其中的信息，通过接口模块单元发送给待测产品；待测产品根据获取的指令将寄存器中的信息通过接口模块单元发送给通用测试单元，通用测试单元将获得待测试产品存储器中的信息通过与寄存器配置文件对比，获得对应的信息。本发明使得在更换待测产品时，能节约大量修改程序的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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