[发明专利]低残留膜进样装置在审
申请号: | 202111575072.5 | 申请日: | 2021-12-21 |
公开(公告)号: | CN114324553A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 庞骏德;戴梦杰;姚如娇;沈辉;景加荣;肖育;何洋;蒋公羽 | 申请(专利权)人: | 上海裕达实业有限公司 |
主分类号: | G01N27/626 | 分类号: | G01N27/626 |
代理公司: | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人: | 高璀璀 |
地址: | 200245 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种低残留膜进样装置,涉及质谱仪进样分析技术领域,该方法包括:气体进样室、进样密封圈、膜、气体缓冲室、加热丝、质谱侧密封圈、保温套筒、采样泵以及质谱电离室;其中,进样密封圈安装在气体进样室内;膜的一端与气体进样室紧密贴合,另一端与气体缓冲室紧密贴合;所述加热丝缠绕于气体缓冲室;所述质谱侧密封圈,安装于所述气体缓冲室与质谱电离室之间;所述保温套筒,安装于所述气体缓冲室外壁;所述采样泵与所述气体进样室连接。本发明能够提高了对痕量有机物的富集,降低痕量有机物在管路内壁的吸附,有效解决有机物检测时谱峰易出现的拖尾现象。 | ||
搜索关键词: | 残留 膜进样 装置 | ||
【主权项】:
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