[发明专利]低残留膜进样装置在审

专利信息
申请号: 202111575072.5 申请日: 2021-12-21
公开(公告)号: CN114324553A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 庞骏德;戴梦杰;姚如娇;沈辉;景加荣;肖育;何洋;蒋公羽 申请(专利权)人: 上海裕达实业有限公司
主分类号: G01N27/626 分类号: G01N27/626
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 高璀璀
地址: 200245 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种低残留膜进样装置,涉及质谱仪进样分析技术领域,该方法包括:气体进样室、进样密封圈、膜、气体缓冲室、加热丝、质谱侧密封圈、保温套筒、采样泵以及质谱电离室;其中,进样密封圈安装在气体进样室内;膜的一端与气体进样室紧密贴合,另一端与气体缓冲室紧密贴合;所述加热丝缠绕于气体缓冲室;所述质谱侧密封圈,安装于所述气体缓冲室与质谱电离室之间;所述保温套筒,安装于所述气体缓冲室外壁;所述采样泵与所述气体进样室连接。本发明能够提高了对痕量有机物的富集,降低痕量有机物在管路内壁的吸附,有效解决有机物检测时谱峰易出现的拖尾现象。
搜索关键词: 残留 膜进样 装置
【主权项】:
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