[发明专利]系统测试方法、装置、电子设备以及存储介质在审
| 申请号： | 202111574219.9 | 申请日： | 2021-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN114328047A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 杨德宽 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司 11134 | 代理人： | 宫传芝 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种系统测试方法、装置、电子设备以及存储介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及人工智能、大数据和知识图谱领域。具体实现方案为：接收测试请求，其中，测试请求用于对目标系统包含的多个模块进行测试；确定测试请求对应的至少一个测试节点，其中，每个测试节点由至少一个目标元节点的组成，目标元节点不可拆分；基于至少一个测试节点包含的所有目标元节点的执行成本，确定至少一个测试节点的执行路径；按照执行路径对至少一个测试节点进行测试，得到测试请求对应的测试结果。本公开解决了相关技术中的系统测试方法的测试门槛较高且效率较低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 系统 测试 方法 装置 电子设备 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京百度网讯科技有限公司，未经北京百度网讯科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111574219.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
