[发明专利]电子器件测试驱动装置及方法在审
| 申请号： | 202111536465.5 | 申请日： | 2021-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN116255374A | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 陈志宝 | 申请（专利权）人： | 旷泰科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | F15B15/14 | 分类号： | F15B15/14;F15B13/04;F15B15/22;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海众象合一知识产权代理有限公司 31395 | 代理人： | 王纪营 |
| 地址： | 201815 上海市嘉定区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子器件测试驱动装置及方法，包括带有壳体的气缸，所述气缸内设有被压缩空气驱动的活塞，所述活塞将所述气缸分为第一气室和第二气室；所述活塞连接活塞杆，所述活塞杆端部连接测试部，所述活塞杆位于所述第一气室；所述第一气室和所述第二气室连接阀，所述阀连接第一阀组，进入所述气缸气室的压缩空气先通过所述第一阀组再通过所述阀，所述第一阀组连接不同压力的气源并设有连通大气的接气口；供给到所述第一气室的压缩空气推动所述活塞带动所述测试部远离测试探针；供给到所述第二气室的压缩空气推动所述活塞带动所述测试部靠近所述测试探针。该装置结构紧凑且缓冲性能强。 | ||
| 搜索关键词： | 电子器件 测试 驱动 装置 方法 | ||
【主权项】：
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