[发明专利]免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备在审
| 申请号： | 202111507847.5 | 申请日： | 2021-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN114167262A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 章斌杰;王孔宝 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯杰矽科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳科润知识产权代理事务所(普通合伙) 44724 | 代理人： | 周晓菊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备，包括底板，所述底板的上表面边侧固定连接有制冷箱；所述制冷箱和制热箱的上端内壁均固定连接有定位臂，所述第二密封板的内部嵌入设置有动力磁铁；所述制冷箱和制热箱的上表面边侧均通过支架和检测箱的下表面相连接；所述检测箱的边侧外壁固定连接有定位套管；所述检测箱的上端内壁螺纹连接有密封盖，所述锁定套管的内部嵌入设置有推动磁铁。该免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备加强了温度检测范围，且检测设备进行温度检测的效率增加，降低了电路性能检测的成本提升，同时检测设备便于检测电路抗磁场干扰的能力。 | ||
| 搜索关键词： | 调试 射频 发射 接收 集成电路 性能 检测 设备 | ||
【主权项】：
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