[发明专利]本振泄露的校准方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111500480.4 申请日: 2021-12-09
公开(公告)号: CN116318239A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 王毅;张哲;王梓铭;刘祥鹏;周红星;张作锋 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04B1/525 分类号: H04B1/525;H04B17/11;H04B17/21;H04B17/309
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 涂超群
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例涉及数字信号处理和通信技术领域,公开了一种本振泄露的校准方法、装置、电子设备及存储介质。上述本振泄露的校准方法包括:获取发射信号的反馈信号;所述发射信号基于业务信号和预输入的特殊序列信号转换得到;所述预输入的特殊序列信号为最长线性移位寄存器序列产生的特殊序列信号;通过所述反馈信号以及所述特殊序列信号,确定所述业务信号的信道参数;依据所述信道参数,获取所述业务信号的本振泄露值;根据所述本振泄露值对所述业务信号进行校准。本发明实施例提供的本振泄露的校准方法,在无信号的环境下,可以实时地提取信道参数,从而进行本振泄露的校准。
搜索关键词: 泄露 校准 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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