[发明专利]玻璃柱体折射率的高精度测量方法有效
申请号: | 202111493885.X | 申请日: | 2021-12-08 |
公开(公告)号: | CN114184580B | 公开(公告)日: | 2023-10-03 |
发明(设计)人: | 王纪元;李金鸿;周继先;胡益翔;方强 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | G01N21/43 | 分类号: | G01N21/43;G01N21/31 |
代理公司: | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人: | 周达 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明提供的玻璃柱体折射率的高精度测量方法,在插针法的基础上用分光计读数,保留原来操作简单的优点的基础上,大大增加了测角的精确度,从而提高了玻璃折射率测量的精确度。在此基础上,通过选取不同的背景光,更是可以实现对不同材质及颜色玻璃折射率的测量。 | ||
搜索关键词: | 玻璃 柱体 折射率 高精度 测量方法 | ||
【主权项】:
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