[发明专利]一种基于薄膜探测器的频闪检测系统及设计制作方法有效

专利信息
申请号: 202111492016.5 申请日: 2021-12-08
公开(公告)号: CN114167477B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 韦敏;施楠 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T1/208
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种基于薄膜探测器的频闪检测系统及设计制作方法,包括制备可响应可见光频闪的光电导、设计并制作基于光电导传感器的频闪分析仪,通过调整光电导薄膜制备工艺参数,得到了有利于制备具有高响应率和高响应速度的光电导的工艺参数组。设计了可进行自适应反馈调节功能的桥式前端,解决了光电导传感器的电阻偏移问题,同时通过仪表放大芯片有效地抑制了电路共模噪声,大大提高了信噪比。设计了紧凑的PCB封装和系统电路,成功完成了对频闪分析仪的板级集成与系统的总体小型化。
搜索关键词: 一种 基于 薄膜 探测器 检测 系统 设计 制作方法
【主权项】:
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