[发明专利]一种基于点衍射干涉的低频振动测量装置和方法在审
申请号: | 202111463618.8 | 申请日: | 2021-12-03 |
公开(公告)号: | CN114353929A | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
发明(设计)人: | 任翔;孙钦密;王振宇;李海滨;冯海盈;付翀;张中杰;王雪杨;李晓东;赵伟明;单海娣;邹炳蔚;章剑;何力人;徐凯;赵辉;李丹;赵楚亚;李雪飞;李柯言;程媛媛;王世闯;王丽玥;李晨希;李智;姚杉;王慧;于美丽;朱青;李一冉 | 申请(专利权)人: | 河南省计量科学研究院 |
主分类号: | G01H9/00 | 分类号: | G01H9/00;G01B11/03 |
代理公司: | 郑州华隆知识产权代理事务所(普通合伙) 41144 | 代理人: | 徐小磊 |
地址: | 450000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明适用于光电测量技术领域,涉及一种基于点衍射干涉的低频振动测量装置和方法。该装置将激光器发射的激光束经过分光处理,并使用两个单模保偏光纤产生两个具备干涉条件的点衍射光源,两个光纤的出射端并排对齐设置在光纤固定环内形成探头,使得其形成的两个点衍射光源的出射光线平行,进而在空间内形成干涉的条纹图像,偏振相机采集到两个时刻的条纹图像后,经过计算设备的分析可以确定两个时刻件该被测对象的偏移情况,探头与被测对象固定连接,可以实现对被测对象的振动偏移量的测量,亚波长量级孔径的单模保偏光纤具备较大孔径角范围和较高光能量,能够有效地提高低频振动测量的精度,可用于对存在振动影响的测量仪器的校准。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 衍射 干涉 低频 振动 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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