[发明专利]一种消除颗粒物多荷电效应的粒径谱反演修正方法在审
| 申请号： | 202111449659.1 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114112817A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 桂华侨;郭呈祥;余同柱;杨义新;程寅;胡俊涛;刘建国 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06;G01N15/10 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人： | 奚华保 |
| 地址： | 230031 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种消除颗粒物多荷电效应的粒径谱反演修正方法，该方法包括：以单个颗粒物携带一个电荷的方式进行颗粒物数浓度反演；获取所有粒径通道的颗粒物数浓度；获取假定单荷电颗粒物粒径谱；对假定单荷电颗粒物粒径谱进行拟合扩展，根据假定单荷电颗粒物粒径谱仪形状选择用于拟合扩展的粒径通道数量；选用Gumbel拟合拓展算法对假定单荷电颗粒物粒径谱进行拟合扩展；选择粒径谱最大粒径通道作为零级单荷电通道；对零级单荷电通道的上一级粒径通道进行多荷电效应修正，向更小粒径的通道逆推，完成整个粒径谱的多荷电效应修正，获取真实的颗粒物粒径谱。本发明满足了粒径谱仪在高度集成化基础上对颗粒物粒径谱的实时、准确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 消除 颗粒 物多荷电 效应 粒径 反演 修正 方法 | ||
【主权项】：
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