[发明专利]基于影响域路径分析的测试用例确定方法和系统在审
| 申请号： | 202111430805.6 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN113934643A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 魏冬冬;代晓倩;苏金梅;云颖;张风玲 | 申请（专利权）人： | 上海航天计算机技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于影响域路径分析的测试用例确定方法，包括，对测试程序的语法和控制流程进行分析，提取程序控制流程图的节点；对控制流程图的节点进行压缩，生成路径分支图；建立路径分支图和首轮测试用例集的映射关系；比对首轮测试程序和回归测试程序，生成回归测试的更改模块并进行更改影响域分析，生成回归测试程序的更改路径分支图；从测试用例中选取满足更改路径分支图最大覆盖率指标的最小测试用例集合，作为当前版本的回归测试用例集合。本发明还提供了测试用例确定系统。本发明的优点在于：降低回归测试所使用的测试用例的数量，提高回归测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 影响 路径 分析 测试 确定 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天计算机技术研究所，未经上海航天计算机技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111430805.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种三自由度假支撑机构
- 下一篇：一种机械制造金属材料用激光焊接机
