[发明专利]基于涡旋波片的空间调制偏振检测方法有效
| 申请号： | 202111422116.0 | 申请日： | 2021-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN114152578B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 李艳秋;宁天磊 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 田亚琪 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于涡旋波片的空间调制偏振检测方法，建立任意偏振光入射时探测面的强度分布同四种特殊偏振光入射时探测面的强度分布之间的关系，所建立理论模型获取四幅探测面的强度分布可实现系统加工和对准误差的标定，简化了空间调制偏振仪的标定步骤，提高了偏振检测效率；提出了混合梯度下降算法来求解最大的光子偏振几率，该方法可实现高精度、快速的偏振态及偏振几率检测，提高了空间调制偏振仪的数据处理效率；结合阈值选通的傅里叶低通滤波技术，本发明方法通过相机单次拍摄可实现强/弱光场下的光子偏振态、光子偏振几率及穆勒矩阵的快速、高精度检测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 涡旋 空间 调制 偏振 检测 方法 | ||
【主权项】：
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