[发明专利]一种真空样品腔密封结构在审

专利信息
申请号: 202111398271.3 申请日: 2021-11-24
公开(公告)号: CN114084509A 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 石鑫;王斌 申请(专利权)人: 上海芮朔精密模塑科技有限公司
主分类号: B65D53/02 分类号: B65D53/02;B65D25/24;B65D25/02
代理公司: 合肥市科融知识产权代理事务所(普通合伙) 34126 代理人: 胡杰
地址: 201600 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种真空样品腔密封结构,属于真空密封技术领域,包括样品腔,一端设有开口;底座,安装在所述样品腔设有开口的一端;密封圈,安装在所述底座内,所述密封圈设置在底座与样品腔之间,所述密封圈与样品腔相连的端面为波浪形;多个立柱,安装在所述样品腔内,所述立柱一端与底座固定连接;样品盘,安装在所述样品腔内,用于存放样品;调节固定件,安装在所述立柱上,用于对样品盘的位置进行调节和固定。本发明在样品腔自身重力作用下,压在波浪形密封圈上时,采用曲线和平面受力原理,可以使其完全贴合,大大挺高了密封性;密封圈的安装底座设计成倒扣结构,这样安装密封圈后,真空环境的负压无法将密封圈吸走,提高了稳定性。
搜索关键词: 一种 真空 样品 密封 结构
【主权项】:
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