[发明专利]一种基于数字TDR技术的模拟测量装置和测量方法在审
| 申请号： | 202111373933.1 | 申请日： | 2021-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN114167256A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 乔世栋;程绪;金君钢;高登 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 尹一凡;吴世华 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于数字TDR技术的模拟测量装置和测量方法，用于测量和计算N路通道的延时信息，以及在正式测量时，对测量数据进行延时校正；该装置包括FPGA模块、与多路通道相应的引脚驱动器PE、RC滤波电路和模拟数字转换器ADC。本发明用模拟测量的低成本数字TDR技术，解决了数字集成电路测试系统引脚时间同步精度不足的问题，可进行批量自动化测试，在测试环境变化时，可便捷的重新校对测量信号，进行补偿修正，且可自动化精度调整，可针对任意路径模型进行测量，通用性能好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 数字 tdr 技术 模拟 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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