[发明专利]一种天线测试的校准方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202111373706.9 | 申请日： | 2021-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN114089049A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 吴洋;安兆彬;孔德旺;刘拓;刘紫薇;陈文强;姜涌泉;张英南;莫崇江 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 刘晓 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及天线校准技术领域，特别涉及一种天线测试的校准方法、装置、电子设备和存储介质。该方法首先对发射天线和接收天线进行第1次天线测试，获得多通道开关箱中各通道的第1次测量值；利用第1次测量值，获得多通道开关箱中各通道的修正值；对发射天线和接收天线进行第i次天线测试，获得多通道开关箱中各通道的第i次测量值，其中，i大于等于2；利用各通道的修正值对各通道的第i次测量值进行校准，得到多通道开关箱中各通道在第i次天线测试时的校准值。本申请提供的校准方法能够将真实测试环境纳入校准范围内，实现在开环状态下对多通道开关箱中各通道之间的差异进行修正，从而获得多通道开关箱中各通道在天线测试时的校准值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 天线 测试 校准 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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