[发明专利]一种地基变形测试系统在审

专利信息
申请号: 202111373201.2 申请日: 2021-11-19
公开(公告)号: CN114234826A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 葛陈玲 申请(专利权)人: 葛陈玲
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;E02D33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种地基变形测试系统,包括测量底座,测量底座上端固定设有机壳,机壳内部设有测量收纳腔,测量收纳腔上端设有垂直度调整机构,垂直度调整机构用于调整所述勘测系统的垂直度,垂直度调整机构下端设有综合测量机构,综合测量机构包括水平偏移量测量机构和竖直偏移量测量机构,水平偏移量测量机构用于传递勘测地基的竖直偏移变形量,竖直偏移量测量机构用于勘测地基的水平偏移变形量;通过设置的垂直度调整机构,利用通过两组滑动,使得整个综合测量机构处于正交水平位置,通过设置的综合测量机构,利用纯滚动与滑块的配合,将空间方向的偏移量分解为单个分量,便于了对地基偏移变形的测量和数据更直观的显示。
搜索关键词: 一种 地基 变形 测试 系统
【主权项】:
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