[发明专利]一种地基变形测试系统在审
申请号: | 202111373201.2 | 申请日: | 2021-11-19 |
公开(公告)号: | CN114234826A | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 葛陈玲 | 申请(专利权)人: | 葛陈玲 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16;E02D33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种地基变形测试系统,包括测量底座,测量底座上端固定设有机壳,机壳内部设有测量收纳腔,测量收纳腔上端设有垂直度调整机构,垂直度调整机构用于调整所述勘测系统的垂直度,垂直度调整机构下端设有综合测量机构,综合测量机构包括水平偏移量测量机构和竖直偏移量测量机构,水平偏移量测量机构用于传递勘测地基的竖直偏移变形量,竖直偏移量测量机构用于勘测地基的水平偏移变形量;通过设置的垂直度调整机构,利用通过两组滑动,使得整个综合测量机构处于正交水平位置,通过设置的综合测量机构,利用纯滚动与滑块的配合,将空间方向的偏移量分解为单个分量,便于了对地基偏移变形的测量和数据更直观的显示。 | ||
搜索关键词: | 一种 地基 变形 测试 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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