[发明专利]一种用于极紫外光刻光源中喷嘴的清洗装置与方法在审

专利信息
申请号: 202111342506.7 申请日: 2021-11-12
公开(公告)号: CN114137800A 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 孙海轶;王成;王关德;李学红;邹家杰;彭凯伦;王天泽;冷雨欣 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于极紫外(EUV)光刻光源中喷嘴的清洗装置,包括:供清洗液放置的清洗罐和清洗皿,管道、过滤器、第一阀门、气压控制装置、气瓶、第二阀门和负压泵;采用超纯水或者易挥发的清洁液体清洗喷嘴,清洗过程采用正压和负压相结合的方式,使得喷嘴内的污染物倒吸到清洗罐中。本发明安装方便,易于操作,适用于EUV光刻光源中微小喷嘴的前期清洗。
搜索关键词: 一种 用于 紫外 光刻 光源 喷嘴 清洗 装置 方法
【主权项】:
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