[发明专利]一种MOS晶体管的测试设备及测试方法在审

专利信息
申请号: 202111340631.4 申请日: 2021-11-12
公开(公告)号: CN114047421A 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 杨贵兰;杨良鑫 申请(专利权)人: 深圳市广联富科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 谢志龙;徐方星
地址: 518000 广东省深圳市宝安区西乡街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种MOS晶体管的测试设备及测试方法,涉及晶体管测试设备技术领域。本发明包括检测箱,所述检测箱的右侧从上到下依次固定有检测器和电热控制器,所述检测箱的背面固定有固定壳,所述固定壳的内部转动安装有螺纹杆,螺纹杆的外侧螺纹连接有螺纹块,所述螺纹块的正面固定有U形台,所述U形台滑动安装在检测箱的内部,所述U形台的顶部左侧和右侧均固定有触点台,所述触点台与检测器通过电线连接诶,左侧和右侧所述触点台之间设置有检测装置。本发明通过电热控制器与电加热器配合,使得电热控制器启动电加热器,从而使得电加热器对检测箱内部环境进行加热,从而达到晶体管在高温环境下检测的目的。
搜索关键词: 一种 mos 晶体管 测试 设备 方法
【主权项】:
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