[发明专利]一种零部件红外辐射强度系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202111323030.2 申请日: 2021-11-09
公开(公告)号: CN114034398A 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 董伟;安保林;宋旭尧;王铁军;原遵东;赵云龙;卢小丰 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01J5/48 分类号: G01J5/48;G01J5/53
代理公司: 北京君琅知识产权代理有限公司 16017 代理人: 周燕
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种零部件红外辐射强度系统及测量方法,其包括:温度控制模块,用于待测样品的升温、降温和稳态温度场控制;主动式双激光测温模块,用于样品表面温度测量;红外成像模块,用于分析待测样品及其周围环境的热分布情况;红外辐射强度探测模块,用于直接测量待测样品的红外辐射强度;面源黑体,用于红外辐射强度探测模块响应度标定;信号采集与处理模块,用于收集测量信号并获得具体温度下的红外辐射强度;限制光阑,用于减少杂散光对辐射强度测量的影响。本系统可在不破坏零部件表面特性的条件下直接开展表面测温,红外成像模块也为红外辐射强度测量的结果分析提供了辅助手段,有利于获得稳定可靠的红外辐射强度测量结果。
搜索关键词: 一种 零部件 红外 辐射强度 系统 测量方法
【主权项】:
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