[发明专利]一种集成电路的测试校准方法在审
| 申请号： | 202111263426.2 | 申请日： | 2021-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN114200284A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 王涛;曹振 | 申请（专利权）人： | 成绎半导体（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人： | 夏平 |
| 地址： | 215600 江苏省苏州市张家港市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路的测试校准方法，其步骤为：1)首先，得到待测集成电路的实际时钟频率；2)按实际时钟频率，测试设备发送命令至待测集成电路的指定引脚；3)通过移位寄存器接收命令；4)解析接收到的命令，对待测集成电路中的相应功能模块进行测试或参数配置；5)待测集成电路将执行命令的情况发回至测试设备，测试设备对接收到的数据进行分析，如果数据完整，则接收完成，如果还要继续对待测集成电路进行测试或参数配置，则重置待测集成电路，并转至步骤2)；6)如果测试和参数配置全部完成，测试设备将锁定待测集成电路的命令发至待测集成电路，待测集成电路执行锁定操作。该测试校准方法可广泛应用于各种集成电路的设计中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 校准 方法 | ||
【主权项】：
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