[发明专利]参数调试方法、装置、存储介质及终端在审
| 申请号： | 202111247667.8 | 申请日： | 2021-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN116028332A | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 陈鸣;卿培;沈亨盛;曾磊 | 申请（专利权）人： | 上海三思电子工程有限公司;上海三思科技发展有限公司;嘉善三思光电技术有限公司;浦江三思光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 倪静 |
| 地址： | 201100 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种参数调试方法、装置、存储介质及终端，所述方法包括：获取可编辑调试界面；获取待调试芯片的参数信息，基于所述参数信息对所述可编辑调试界面进行编辑以获取标准调试界面；其中，所述可编辑调试界面的编辑方式包括建立所述可编辑调试界面上的界面控件与所述参数信息的对应关系；基于所述标准调试界面对所述待调试芯片进行调试。本发明允许用户根据实际需要动态修改编辑调试界面，可扩展性强，无需为每种类型的芯片单独开发调试软件；不会产生过多软件版本，便于进行管理；对于已经调试过的同类型芯片无需重新编辑，可直接从界面库调取对应的标准调试界面；为同类型芯片设置不同应用场景下的多组调试数据，提高调试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 参数 调试 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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