[发明专利]一种基于谱分析的超表面构建方法有效
申请号: | 202111204780.8 | 申请日: | 2021-10-15 |
公开(公告)号: | CN113642197B | 公开(公告)日: | 2022-02-25 |
发明(设计)人: | 秦一峰;朱泓艺 | 申请(专利权)人: | 鹏城实验室;上海宽带技术及应用工程研究中心 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F111/06 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 温宏梅 |
地址: | 518055 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于谱分析的超表面构建方法,通过获取入射波束信息,根据入射波束信息确定入射面电磁场分布数据;获取目标波束信息,根据目标波束信息确定出射面电磁场分布数据;根据入射面电磁场分布数据和出射面电磁场分布数据,构建超表面。本发明通过分析入射波束和目标波束,确定超表面的入射面、出射面各自的电磁场分布情况。由于电磁场分布与超表面的结构特征密切相关,因此可以基于入射面、出射面各自的电磁场分布情况,确定超表面的结构特征,进而实现超表面的构建。本发明不用进行仿真优化,解决了现有技术中在构建超表面时,采用商业软件对超表面上每个结构单元进行仿真优化,导致消耗大量的计算成本和时间成本的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 谱分析 表面 构建 方法 | ||
【主权项】:
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