[发明专利]一种基于谱分析的超表面构建方法有效

专利信息
申请号: 202111204780.8 申请日: 2021-10-15
公开(公告)号: CN113642197B 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 秦一峰;朱泓艺 申请(专利权)人: 鹏城实验室;上海宽带技术及应用工程研究中心
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F111/06
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 温宏梅
地址: 518055 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于谱分析的超表面构建方法,通过获取入射波束信息,根据入射波束信息确定入射面电磁场分布数据;获取目标波束信息,根据目标波束信息确定出射面电磁场分布数据;根据入射面电磁场分布数据和出射面电磁场分布数据,构建超表面。本发明通过分析入射波束和目标波束,确定超表面的入射面、出射面各自的电磁场分布情况。由于电磁场分布与超表面的结构特征密切相关,因此可以基于入射面、出射面各自的电磁场分布情况,确定超表面的结构特征,进而实现超表面的构建。本发明不用进行仿真优化,解决了现有技术中在构建超表面时,采用商业软件对超表面上每个结构单元进行仿真优化,导致消耗大量的计算成本和时间成本的问题。
搜索关键词: 一种 基于 谱分析 表面 构建 方法
【主权项】:
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