[发明专利]一种固态硬盘老化测试装置在审
| 申请号： | 202111180229.4 | 申请日： | 2021-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN113889178A | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | 黄少娃;吴秉陵;翁友民;黄庭鑫;罗晓东;虞青松 | 申请（专利权）人： | 深圳市铨兴科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11B33/14;G11B33/06 |
| 代理公司： | 深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙) 44527 | 代理人： | 曾令安 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华强*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种固态硬盘老化测试装置，属于测试装置技术领域，包括限位框架，所述限位框架的内部设置有测试机构，限位框架的一端设置有用于对测试机构起到降温作用的散热机构，测试机构包括用于对硬盘起到测试作用的测试组件、用于对测试组件起到限位作用的限位组件，用于驱动硬盘移动的驱动组件和动力组件，测试组件和动力组件设置在限位组件的内部，动力组件滑动连接在测试组件上，驱动组件设置在动力组件的顶部，所述测试组件包括测试箱；本发明结构简单，使用方便，使用时通过散热机构对硬盘进行高效散热，有效避免硬盘在测试过程中由于温度过高而发生故障，提升测试装置的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固态 硬盘 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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