[发明专利]热更新测试方法及装置、电子设备、存储介质在审

专利信息
申请号: 202111176347.8 申请日: 2021-10-09
公开(公告)号: CN113918192A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 梁俊;刘畅 申请(专利权)人: 网易(杭州)网络有限公司
主分类号: G06F8/65 分类号: G06F8/65;G06F11/36
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 吴文心
地址: 310052 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请提供了一种热更新测试方法及装置、电子设备、存储介质;其中,方法包括:响应于针对SVN仓库的热更新指令,根据所述热更新指令生成对应的热更新修复文件;将所述热更新修复文件发送至Git仓库对应的热更新修复分支中,以结合所述热更新修复分支对应的基线包体,生成待测试的热更新修复包体;所述SVN仓库和所述Git仓库对应相同的应用程序;在所述热更新修复包体测试成功后,将所述热更新修复文件合入所述Git仓库对应的主分支,并生成相应的、用于外放的目标包体。本申请实施例可以集SVN仓库和Git仓库所长,实现既符合大部分用户使用SVN仓库的习惯,又能通过Git仓库的分支管理功能,提高测试效率、降低外放包体出现代码错误的几率。
搜索关键词: 更新 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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