[发明专利]楔形滤波器引起的散射信号的校正方法及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111162044.0 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN115869000A 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 张国庆;汪洋;陈文豪;李涛涛;田毅 申请(专利权)人: 上海西门子医疗器械有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00;G06T11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201318 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 楔形滤波器引起的散射信号的校正方法,包括:S10:使用CT设备进行空气扫描,并根据空气扫描结果计算得到空气扫描下由楔形滤波器引起的散射信号的相对强度Wair,S20:使用CT设备进行多个实验对象的对象扫描,并结合S10的结果计算得到实验对象的在对象扫描下的理论散射信号强度Wtheo,S30:对实验对象的在对象扫描下的Wtheo和实验对象的在对象扫描下的散射信号强度估值Wact进行拟合,及S40:根据实际对象的在对象扫描下的所述散射信号强度估值Wact和实际对象的在对象扫描下所述理论散射信号强度Wtheo的差值校正扫描结果。本方法可以更准确校正楔形滤波器引起的散射信号。本发明还提供了一种存储介质。
搜索关键词: 楔形 滤波器 引起 散射 信号 校正 方法 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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