[发明专利]基于Cadence高线性激光器阵列芯片的测试系统在审
| 申请号： | 202111153296.7 | 申请日： | 2021-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN113866607A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 贾华宇;杨振强;孙元新;熊永华;李灯熬 | 申请（专利权）人： | 太原理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 | 代理人： | 任林芳 |
| 地址： | 030024 *** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明属于高线性激光器阵列芯片测试领域，高线性激光器阵列芯片的检测设备由于体积大、投资多，费工时，不能连续测量，自动化程度低，且硬件检测也需要大量代表性样品进行化学分析建模，对小批量的芯片测试不切实际；本发明利用Cadence软件，引入电源电压、差分输入电压、参考电流，温度补偿调制电阻，偏置电流，激光器调制电流，环路失效报警信号，自动功率控制接地模块，搭建了一套方便快捷，显示直观，功能较齐全的智能测试系统，完成高线性激光阵列芯片的各项性能测试，本发明不需要任何硬件设备，能够验证高线性激光器阵列芯片各项性能是否达标。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 cadence 线性 激光器 阵列 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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