[发明专利]测试结构和测试方法在审
| 申请号： | 202111079609.9 | 申请日： | 2021-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN113900008A | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 王磊;肖慧;方文啸;邵伟恒;黄权;李键坷;刘加豪;来萍;路国光;黄云 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R27/02 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 蔡抒枫 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试结构及测试方法，测试结构包括：多条射频链路，各所述射频链路均包括多个焊点以及位于相邻焊点之间与焊点相连接的传输线；不同所述射频链路中至少一处对应的所述传输线的长度不同。对测试结构中的各射频链路进行阻抗测试，以得到各射频链路的阻抗‑时间曲线，根据阻抗‑时间曲线和各射频链路的结构可以识别出长度不同的传输线，从而识别出各射频链路中的焊点和传输线，如果此时有射频链路中存在失效点，由于焊点和传输线已经识别出来，就可以实现对失效点的精确定位，准确分析器件失效位置，满足新型射频器件研制以及应用可靠性研究需求。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结构 方法 | ||
【主权项】：
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