[发明专利]基于金刚石薄膜的太赫兹产生装置及其产生方法有效

专利信息
申请号: 202111072202.3 申请日: 2021-09-14
公开(公告)号: CN113794086B 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 全保刚;李俊杰;顾长志;徐新龙;杜婉怡 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01S1/00 分类号: H01S1/00
代理公司: 北京市正见永申律师事务所 11497 代理人: 黄小临;冯玉清
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种基于金刚石薄膜的太赫兹产生装置及其产生方法。所述太赫兹产生装置包括金刚石薄膜和泵浦光源,所述金刚石薄膜是纳米晶金刚石薄膜,在所述泵浦光源发出的泵浦光激发下在其表面产生光牵引效应而辐射太赫兹波。通过改变泵浦光的入射角度、泵浦光的能量密度、泵浦光的偏振角度可优化金刚石薄膜产生的太赫兹波的强度。并且金刚石薄膜还可有效地辐射椭圆偏振太赫兹波。本申请公开的太赫兹产生装置具有高阈值功率、高效稳定性,在太赫兹功能器件领域有广泛的应用前景。
搜索关键词: 基于 金刚石 薄膜 赫兹 产生 装置 及其 方法
【主权项】:
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