[发明专利]一种评估射频整流电路综合性能的方法在审
| 申请号： | 202111069005.6 | 申请日： | 2021-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN113792521A | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 郭磊;李绪旺;李晓洲 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 辽宁鸿文知识产权代理有限公司 21102 | 代理人： | 苗青 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供一种评估射频整流电路综合性能的方法，属于射频电路领域，该方法不仅能够准确计算二极管的转化效率，也能够评估设计的整流电路的匹配性能。根据工作状态对二极管的结电容和结电压进行建模，并计算得到二极管在不同输入功率和频率下的开启电压，这样能在较宽的功率和频率范围内准确计算二极管的转化效率。利用计算的二极管转化效率可以进一步计算二极管在不同频率下的非线性电阻和输入阻抗，从而准确地评估匹配效率(匹配损耗)。本发明提出的方法可以综合地分析射频整流电路的性能，另一方面，它还可以为设计一定阻抗带宽的射频整流电路提供指导。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 评估 射频 整流 电路 综合 性能 方法 | ||
【主权项】：
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