[发明专利]一种集成电路测试接口设备在审
| 申请号： | 202111046107.6 | 申请日： | 2021-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN113866593A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 谢俊娅 | 申请（专利权）人： | 谢俊娅 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 312000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试接口设备，其结构包括测试仪、数据显示器、接口装置、按钮，测试仪前表面嵌固安装有数据显示器，并且测试仪前端下方固定安装有接口装置，当转换接头插入后，松开转杆，通过弹簧管套内部施加弹力，从而使得卡合片往内侧进行弹性移动，对导通机构外侧上端进行抵触，抵触片与外部的连接导线进行牢固的挤压，从而将连接导线牢固的卡合在嵌入槽内部，避免外部导线与嵌入槽之间发生松动，通过转换接头下端对收缩板进行挤压，提高导通机构顶部与转换接头之间的挤压连接卡合密封性，通过扭力轴的扭力弹性，使得开闭片自动复位，将导通槽上端进行闭合密封，避免灰尘进入到导通槽内部，确保导通槽内部的导通连接性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 接口 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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