[发明专利]一种宽温纳米颗粒计数器用饱和器有效

专利信息
申请号: 202111013196.4 申请日: 2021-08-31
公开(公告)号: CN113720748B 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 陈龙飞;马啸;沈祺峰 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 董领逊
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种宽温纳米颗粒计数器用饱和器。该饱和器包括:饱和室和前处理管路;饱和室包括饱和室本体、温控单元和工质,工质装载在饱和室本体内侧的底部,工质为醇类、酯类、硅油类或由酯类、硅油类、醇类中至少两种构成的混合物,温控单元包括加热构件和用于对加热构件进行温度调节的温控模块,饱和室本体外侧底部开设有安装槽,加热构件设置于安装槽内,饱和室本体的侧壁开设有进气通道,进气通道在饱和室本体内侧壁的开口高度高于工质液面的高度,饱和室本体的顶部开设有出气通道;前处理管路上设置有颗粒过滤器和流量测控模块,前处理管路的输出端与进气通道连通。本发明提供的饱和器能够适用于宽温纳米颗粒计数器。
搜索关键词: 一种 纳米 颗粒 计数 器用 饱和
【主权项】:
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