[发明专利]一种热电阻温度计自热指数测量方法在审

专利信息
申请号: 202111003422.0 申请日: 2021-08-30
公开(公告)号: CN113701921A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 宋延勇;苏明旭;郭爱华 申请(专利权)人: 上海仪器仪表自控系统检验测试所有限公司;上海理工大学
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 卢泓宇
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种热电阻温度计自热指数测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,将热电阻温度计接入电桥,参比电阻R1,电阻R2,以及可调电阻R3接入电路;步骤S2,给电桥提供低电压,使电流值达到I,调节R3使U1接近零;步骤S3,采集并记录电桥输出电压U1、R1两端的电压U2和R3的阻值;步骤S4,计算热电阻温度计在低电压下的阻值R、电流I和电功率P;步骤S5,给电桥提供高电压,电流值达到I',采集并记录电桥输出电压U'1;步骤S6,记录参比电阻R1的电压U'2和热电阻温度计两端的电压U'3;步骤S7,计算热电阻温度计在高电压下的阻值R'、电流I'和电功率P';步骤S8,计算出自热指数;步骤S9,重复多次并计算自热指数;步骤S10,将各次所得到的自热指数的平均值作为热电阻温度计自热指数。
搜索关键词: 一种 热电阻 温度计 指数 测量方法
【主权项】:
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