[发明专利]样本处理装置、测定装置及测定方法在审
申请号: | 202110995149.8 | 申请日: | 2021-08-27 |
公开(公告)号: | CN114107029A | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 大上创一;佐佐木规彰 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | C12M1/38 | 分类号: | C12M1/38;C12M1/00 |
代理公司: | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人: | 杨永波 |
地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明能够于在反应工序中加热反应容器的样本处理装置中,防止用户误接触温度调节部。该样本处理装置(1)是一种对反应容器(50)中收放的样本进行处理的装置,其具备:供反应容器(50)设置的设置部(10)、对设置部(10)中设置的反应容器(50)进行加热的温度调节部(20)、能向开放温度调节部(20)的第1位置(P1)和覆盖温度调节部(20)的第2位置(P2)移动的开合构件(40)。 | ||
搜索关键词: | 样本 处理 装置 测定 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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