[发明专利]一种晶体折射率测量方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202110990860.4 | 申请日： | 2021-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN113777035A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 龙佳乐;刘馨悦;张建民;杜梓浩;丁毅 | 申请（专利权）人： | 五邑大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/45 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 梁国平 |
| 地址： | 529000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体折射率测量方法、装置及存储介质，其中方法包括获取由干涉仪产生的参考干涉图像和晶体干涉图像；对参考干涉图像和晶体干涉图像进行重心点计算得到第一重心点坐标和第二重心点坐标；计算重心相对移动量，根据重心相对移动量、参考干涉图像的条纹宽度、晶体的厚度和源光束的波长得到折射率；无需对晶体进行加工改变晶体形状即可直接进行折射率测量，且测量精度高，测量速率高，大大提升了晶体折射率测量的效率和准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 折射率 测量方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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