[发明专利]一种基于生产环境数据的电子元件性能预测方法

摘要

本发明提供的一种基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，涉及电子元件技术领域。在本发明中，基于获取的目标生产设备的多条生产设备状态数据，确定所述目标生产设备的目标设备状态信息，其中，每一条生产设备状态数据用于表征目标生产设备在生产目标电子元件的过程中的设备状态；在目标设备状态信息表征目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对多条生产设备状态数据进行解析得到多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息；基于设备状态标准度信息对目标电子元件的元件性能进行预测处理，得到目标电子元件对应的性能预测结果；如此，可以改善现有技术中对元件性能进行确定时存在的效率较低的问题。