[发明专利]一种基于电场校准的悬浮光阱纳米粒子质量测量方法在审
| 申请号： | 202110990298.5 | 申请日： | 2021-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN113804606A | 公开（公告）日： | 2021-12-17 |
| 发明（设计）人： | 李翠红;马园园;高晓文;傅振海;朱绍冲;胡慧珠 | 申请（专利权）人： | 之江实验室;浙江大学 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林松海 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市余杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于电场校准的悬浮光阱纳米粒子质量测量方法。在高真空度下，利用幅值锁定方法得到光阱的非线性校准系数，进而通过位移信号测量获得光阱中球形纳米粒子的质量，校准由电场驱动测量方法测得的质量，得到有效的驱动交流电场后利用驱动电场测量方法计算抽真空过程中的球形纳米粒子质量。本发明解决了常见质量测量方法存在的缺陷，通过驱动电场的校准实现精确测量光阱中悬浮微粒的质量，一方面可以提高了悬浮光力学力学指标测量精度和过程中质量测量，并且提供了一种微纳尺度电场量表征的手段。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电场 校准 悬浮 纳米 粒子 质量 测量方法 | ||
【主权项】：
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