[发明专利]一种IC成品小批量测试设备及其测试方法在审
| 申请号： | 202110985968.4 | 申请日： | 2021-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN113655326A | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 朱冬成 | 申请（专利权）人： | 南通斯康泰智能装备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 南京钟山专利代理有限公司 32252 | 代理人： | 陈亮亮 |
| 地址： | 226000 江苏省南通市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IC成品小批量测试设备及其测试方法，包含机架以及设置在机架上的柔性振动盘、第一芯片吸取定位相机、四轴机械手、芯片安装定位相机、芯片测试座和第二芯片吸取定位相机，第一芯片吸取定位相机设置在柔性振动盘上方采集柔性振动盘上的芯片正反、位置和方向信息，芯片安装定位相机设置在柔性振动盘和芯片测试座之间用于采集吸取的芯片的安装位置和方向，四轴机械手端部设置有芯片吸盘用于吸取芯片，第二芯片吸取定位相机设置在四轴机械手端部用于精准获取被吸取芯片的位置和方向。本发明实现了不同种类的IC成品的全自动测试，全程自动操作完成，无需人工参与，节约了人力的同时大大提高了芯片测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 成品 批量 测试 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
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