[发明专利]电子产品的测试方法、电子装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110975515.3 申请日: 2021-08-24
公开(公告)号: CN115932425A 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 吴嘉良 申请(专利权)人: 三赢科技(深圳)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/26
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 周志伟
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请提供一种电子产品的测试方法、电子装置及存储介质,所述方法包括:选择连接有从机的串口,建立电子装置与所述从机之间的连接,其中,所述从机与至少一电子产品连接;发送点亮指令至所述从机,通过所述从机启动所述电子产品;获取所述电子产品的寄存器中存储的数据及所述电子产品的状态;测量所述电子产品中至少一电容器的电容;若所述电子产品处于异常状态,根据所述电子产品的数据和测量得到的所述电容分析异常原因。本申请可以在对产品执行非破坏性试验的同时获取产品信息,并对产品进行分析,无需执行将产品运送至产线机台的流程,减少了时间成本和人工成本,提高了产品的测试效率。
搜索关键词: 电子产品 测试 方法 电子 装置 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三赢科技(深圳)有限公司,未经三赢科技(深圳)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110975515.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top