[发明专利]电子产品的测试方法、电子装置及存储介质在审
申请号: | 202110975515.3 | 申请日: | 2021-08-24 |
公开(公告)号: | CN115932425A | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 吴嘉良 | 申请(专利权)人: | 三赢科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R27/26 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 周志伟 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请提供一种电子产品的测试方法、电子装置及存储介质,所述方法包括:选择连接有从机的串口,建立电子装置与所述从机之间的连接,其中,所述从机与至少一电子产品连接;发送点亮指令至所述从机,通过所述从机启动所述电子产品;获取所述电子产品的寄存器中存储的数据及所述电子产品的状态;测量所述电子产品中至少一电容器的电容;若所述电子产品处于异常状态,根据所述电子产品的数据和测量得到的所述电容分析异常原因。本申请可以在对产品执行非破坏性试验的同时获取产品信息,并对产品进行分析,无需执行将产品运送至产线机台的流程,减少了时间成本和人工成本,提高了产品的测试效率。 | ||
搜索关键词: | 电子产品 测试 方法 电子 装置 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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