[发明专利]一种基于ATE的DSP测试方法在审
| 申请号： | 202110960321.6 | 申请日： | 2021-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN115904826A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 杨超;唐金慧;张金凤;马成英;吴迪;金荣康 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人： | 许志宏 |
| 地址： | 100074 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于ATE的DSP测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有测试方法无法满足高性能DSP测试需求的问题。一种基于ATE的DSP测试方法，所述方法包括：编写适配于待测DSP芯片的测试项目的DSP配置程序，并将所述DSP配置程序下载到所述待测DSP芯片的外挂FLASH中；所述DSP配置程序包括与每一测试项目对应的测试配置子程序；ATE基于外挂FLASH中的DSP配置程序上电配置待测DSP芯片；ATE向所述DSP芯片发送所述测试项目对应的GPIO测试交互指令；所述待测DSP芯片基于接收到的所述GPIO测试交互指令，运行所述测试项目对应的测试配置子程序，并输出测试观测信号；ATE基于采集到的测试观测信号判断所述测试项目是否测试通过。该测试方法能够满足高性能DSP测试需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate dsp 测试 方法 | ||
【主权项】：
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