[发明专利]一种通过磁滞回线进行材料磁学性能的测定方法有效

专利信息
申请号: 202110953862.6 申请日: 2021-08-19
公开(公告)号: CN113655419B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 唐笑年;易维云;苏清萍;李竹;邓子豪;张昊雯;吴豪;王崇柏;王赞昆;朱柏荣;戴奇轩;唐瑨岚;郭莹;郑佩琳;段彬 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G01R33/14 分类号: G01R33/14
代理公司: 长春市恒誉专利代理事务所(普通合伙) 22212 代理人: 梁紫钺
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种通过磁滞回线进行材料磁学性能的测定方法,包括以下步骤:测定之前测量并记录一定时间内的空载数据,对测定装置进行标定,开始正式实验,得到该待测试样相应的磁滞回线数据,通过图像处理方法将被测图像与库图像进行识别对比,从而分析出被测材料的磁学性能。本发明提供的检测方法主要分析过程依靠计算机的分析算法,成本较低,所采用的检测装置结构简单,造价低,操作方便;本发明可以对不完整的曲线进行分析,同时本发明针对试样的磁滞回线不仅能分析它的各种性能参数,还会根据这些参数对物质的材料进行判断,判断所测物质中是否含有杂质,测试速度快,效率高,准确率高。
搜索关键词: 一种 通过 磁滞回线 进行 材料 磁学 性能 测定 方法
【主权项】:
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