[发明专利]高低温综合红外测试系统在审
| 申请号： | 202110932038.2 | 申请日： | 2021-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN113588094A | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 孙明为;朱红梅;吕宗霖;马川;陆瑾;芦鹏飞 | 申请（专利权）人： | 超晶科技(北京)有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 | 代理人： | 范晓斌 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区王庄*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种高低温综合红外测试系统，涉及光学测试领域。其包括支撑装置、驱动装置、黑体辐射源、控制器及黑体温度控制系统，具有结构简单价格低廉的优点。本申请通过支撑装置支撑和固定。通过控制器控制驱动装置运动，进而带动黑体辐射源转动并使其具有不同的位置和运动速度。通过黑体温度控制系统控制并反馈黑体辐射源的温度参数。通过上述结构，在高低温试验过程中使用，能够模拟移动目标，并且可以精确调节目标温度，实现红外探测器的高低温测试。 | ||
| 搜索关键词： | 低温 综合 红外 测试 系统 | ||
【主权项】：
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