[发明专利]一种三维光学扫描测量仪及其误差分析方法在审

专利信息
申请号: 202110907852.9 申请日: 2021-08-09
公开(公告)号: CN113639634A 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 陈龙;陶磊;熊乙锟;颜宇;李田华;刘旭 申请(专利权)人: 重庆市计量质量检测研究院
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 苏州拓云知识产权代理事务所(普通合伙) 32344 代理人: 王超
地址: 401123 重庆市渝北区杨柳*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种三维光学扫描测量仪及其误差分析方法,其包括XY方向滑台模组、电动伸缩器、底座、测量台、柔性夹持组件以及光学扫描测量装置,其中,所述底座的正端面上固定设置有控制面板,所述底座的顶端面上安装有所述测量台,位于所述测量台的左、右两侧均设有固定于所述底座上的支撑座,两个所述支撑座的顶端面上均固定设置有固定架,每个所述固定架的顶端均固定安装有所述电动伸缩器,每个所述电动伸缩器的驱动端均固定安装有所述柔性夹持组件。本发明采用步距球规进行一次性测量,得到三维光学扫描测量仪的探测误差、平面测量误差和尺寸测量误差。
搜索关键词: 一种 三维 光学 扫描 测量仪 及其 误差 分析 方法
【主权项】:
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