[发明专利]磁场控制的磁性纳米线的测量方法在审

专利信息
申请号: 202110903400.3 申请日: 2021-08-06
公开(公告)号: CN113759152A 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 许云丽;刘磊;李应琛;易立志;潘礼庆 申请(专利权)人: 三峡大学
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01B11/02;B82Y35/00
代理公司: 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人: 高阳
地址: 443002 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种磁场控制的磁性纳米线的测量方法,依次通过配置磁性纳米线制备溶液、进行磁性纳米线的制备与分散、制作指状电极的光刻与刻蚀、操作平台的搭建、进行磁性纳米线的桥接,最后进行磁性纳米线的观察及测量:利用磁场对磁性纳米线的引导与排列作用,以实现磁性纳米线在指状电极上的自组装(桥接),其中磁场为定向磁场,大小为30~500 mT。指状电极的条形电极单元宽度为2~10μm,长度为50~200μm。本发明利用指状电极对磁性纳米线进行测量,具有操作简单、实验条件简单、容易实现、方向可控的优点。
搜索关键词: 磁场 控制 磁性 纳米 测量方法
【主权项】:
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