[发明专利]偏差原因影响值的预测方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110895010.6 申请日: 2021-08-05
公开(公告)号: CN113705859A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 李悦;吴卫 申请(专利权)人: 深圳集智数字科技有限公司
主分类号: G06Q10/04 分类号: G06Q10/04;G06Q50/16;G06F40/169;G06F40/177
代理公司: 北京嘉科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11687 代理人: 杨波
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本公开实施例提供一种偏差原因影响值的预测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:对业务数据处理得到对业务结果造成偏差的偏差原因;从偏差原因的字段中提取出关键字段,并确定关键字段对应的字段值;基于关键字段对应的字段值以及预设的业务结果测算方式,确定偏差原因对应的第一业务结果,其中,第一业务结果用于表示产生偏差原因后的实际业务结果;确定产生偏差原因前的第二业务结果,基于第一业务结果和第二业务结果,对预设时间内偏差原因对业务结果造成的影响值进行预测。本公开能够对多偏差原因影响值进行量化拆解,实现对偏差原因影响值的预测。
搜索关键词: 偏差 原因 影响 预测 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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