[发明专利]一种用于中低原子序数物质的μ子成像方法有效
| 申请号： | 202110880685.3 | 申请日： | 2021-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN113576504B | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 王晓冬;季选韬;魏鑫 | 申请（专利权）人： | 南华大学 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;A61B6/02;G01N23/044 |
| 代理公司： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人： | 张珉瑞 |
| 地址： | 421001 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于中低原子序数物质的μ子成像方法，包括如下步骤：S1、获取所有重建μ子径迹与若干个给定数学平面的交点的坐标；S2、将各交点的坐标取整后赋予给对应的体素；S3、统计每个体素的交点数量；S4、筛选出交点数量大于预设阈值的体素；S5、将筛选后的体素成像，得到待成像物体的图像。由于采用了上述技术方案，与现有技术相比，本发明通过计算重建μ子径迹与给定数学平面的交点坐标，再根据交点的密集程度将待成像物体断层成像。本发明提供的方法对μ子径迹探测器的灵敏面积要求不高，且没有采用迭代的思想，可以通过设定阈值排除掉偶然符合产生的错误信息，从而更好地实现对厘米级物体的成像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 原子序数 物质 成像 方法 | ||
【主权项】：
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