[发明专利]一种自溯源型光栅干涉精密位移测量系统有效

专利信息
申请号: 202110862699.2 申请日: 2021-07-29
公开(公告)号: CN113566714B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 邓晓;程鑫彬;林子超;顾振杰;姚玉林;李同保 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B9/02
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 翁惠瑜
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种自溯源型光栅干涉精密位移测量系统,包括相干光源、光电探测模块、自溯源光栅和信号处理模块,所述自溯源光栅设置于待测的位移运动平台上,所述相干光源、光电探测模块和信号处理模块依次连接,所述相干光源产生的激光经光电探测模块传播后,入射至自溯源光栅,与自溯源光栅发生衍射作用,返回至光电探测模块中继续传播,进入信号处理模块,信号处理模块采集干涉信号获取运动位移量和运动方向。与现有技术相比,本发明克服了位移测量溯源难度大和光栅刻线密度低的缺点,其直接溯源的测量途径具有位移测量准确性高、鲁棒性强的优势。
搜索关键词: 一种 溯源 光栅 干涉 精密 位移 测量 系统
【主权项】:
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