[发明专利]基于RTG的反演电离层电子温度的方法及系统有效
| 申请号： | 202110812331.5 | 申请日： | 2021-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN113686456B | 公开（公告）日： | 2023-09-01 |
| 发明（设计）人： | 李泽运;李庆丰;方涵先;汪四成;龚红卫 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01K7/00 | 分类号： | G01K7/00 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 陈珉 |
| 地址： | 410000 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于RTG的反演电离层电子温度的方法，包括：采用GUISDAP处理非相干散射雷达源数据得到部分电离层电子温度剖面图；采用RTG处理非相干散射雷达源数据得到数据缺失部分的离子谱线，通过离子谱线得到其峰谷比；根据离子谱线求出离子温度；根据离子温度和离子谱线的峰谷比得到电子温度，本发明通过RTG软件将GUISDAP处理非相干散射雷达源数据缺失部分的电子温度补齐，从而与GUISDAP一起配合准确高效的反演出了电子温度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 rtg 反演 电离层 电子 温度 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科技大学，未经中国人民解放军国防科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110812331.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
