[发明专利]高精密内存测试设备有效
| 申请号： | 202110797886.7 | 申请日： | 2021-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113257335B | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 田景均;刘坤 | 申请（专利权）人： | 深圳泰思特半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市嘉宏博知识产权代理事务所 44273 | 代理人： | 孙强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高精密内存测试设备，本发明能够完成对高精密内存批量化、高效率的测量，本发明的设备包括夹紧测试台以及旋转定位器，该夹紧测试台包括底台、固定测试针板以及活动测试针板，在该固定测试针板与该活动测试针板之间形成一测试腔，该旋转定位器包括转轴、转动臂以及推板，该测试腔具有打开状态以及夹紧测试状态，当该测试腔处于打开状态的时候，该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度增大，此刻，能够完成装料或者取料的动作，当该测试腔处于夹紧测试状态的时候，该旋转定位器转动顶推该活动测试针板，该测试腔的横向宽度缩小，内存条被夹设在该测试腔中，若干该测试针与内存条的接触引脚接触，以进行测试的动作。 | ||
| 搜索关键词： | 精密 内存 测试 设备 | ||
【主权项】：
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